10.3969/j.issn.1672-5468.2019.05.010
基于V93k的多时钟域集成电路测试技术研究
随着复杂集成电路的飞速发展,SoC产品成为了整机系统的重要解决方案.由于此类产品的复杂结构、多时钟域特性,对测试方法和测试技术也提出了更高的要求.尽管测试仪器设备及测试手段在近年来也在快速发展,但是仍然不能完全满足此类产品发展的需求.如何快速、有效地完成此类产品的测试一直是测试从业人员特别关注的问题.针对此类多时钟域产品,共时测试方案是一种高效的解决方案,但是其实现过程较为复杂,其向量转换、测试程序开发等方面都需要借助特别的手段来实现.主要针对多时钟域产品共时测试开发的解决方案、向量转换等问题进行了研究,并给出了基于V93k ATE进行单时钟和多时钟测试等多种解决途径.
集成电路、多时钟域、共时测试
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TN43(微电子学、集成电路（IC）)
2019-12-09（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）
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