期刊专题

10.3969/j.issn.1672-5468.2018.06.002

某LCCC器件焊点失效原因分析及解决措施

引用
某型设备在长期使用过程中出现了LCCC封装器件焊点重复性失效的故障,对产品的功能、 性能造成了一定的影响.对故障原因进行了分析,开展了复现试验,提出了相应的改进措施并对改进措施的有效性进行了试验验证.结果显示,改进措施落实后,降低了产品的故障率,得到了顾客的认可.

无引线陶瓷芯片载体、带引脚的陶瓷芯片载体、焊点可靠性、环境试验、热膨胀系数、改进措施

36

TN405(微电子学、集成电路(IC))

2019-03-11(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)

共6页

9-14

相关文献
评论
暂无封面信息
查看本期封面目录

电子产品可靠性与环境试验

1672-5468

44-1412/TN

36

2018,36(6)

相关作者
相关机构

专业内容知识聚合服务平台

国家重点研发计划“现代服务业共性关键技术研发及应用示范”重点专项“4.8专业内容知识聚合服务技术研发与创新服务示范”

国家重点研发计划资助 课题编号:2019YFB1406304
National Key R&D Program of China Grant No. 2019YFB1406304

©天津万方数据有限公司 津ICP备20003920号-1

信息网络传播视听节目许可证 许可证号:0108284

网络出版服务许可证:(总)网出证(京)字096号

违法和不良信息举报电话:4000115888    举报邮箱:problem@wanfangdata.com.cn

举报专区:https://www.12377.cn/

客服邮箱:op@wanfangdata.com.cn

打开万方数据APP,体验更流畅