10.3969/j.issn.1672-5468.2017.04.010
结构分析技术在外壳评价中的应用
结构分析是一种重要的电子元器件可靠性评估方法.通过结构分析可以评估元器件内是否存在潜在的缺陷,为元器件的固有质量和固有可靠性的判断提供重要的依据.介绍了结构分析的一般技术流程,并将其应用于某型号半导体器件外壳的结构分析工作中,最后给出了有关结构分析工作的几点建议.
结构分析、可靠性评估、外壳、建议
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TB114.39;TN303(工程基础科学)
2017-09-15(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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