10.3969/j.issn.1672-5468.2017.04.009
电压检测芯片失效分析
近年来,随着智能电表的广泛使用,其质量和可靠性问题受到了人们越来越多的关注.但是,由于各种原因,产品投入市场后仍会出现各种失效现象.因此,对某智能电表的电压检测芯片的失效现象进行了分析,通过外观检查、 电参数测试和X-射线测试等手段找到了该芯片的失效原因,并针对发现的问题提出了相应的改进意见.
智能电表、电压检测芯片、失效分析、外观检查、电参数测试
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TB114.39(工程基础科学)
2017-09-15(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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