期刊专题

10.3969/j.issn.1672-5468.2017.02.006

镀金引线低温玻璃密封失效分析及其改进措施

引用
气密性封装产品的气密性和气密可靠性对产品的长期使用寿命和可靠性是至关重要的.主要分析了镀金引线低温玻璃密封失效的原因,并针对分析中发现的引线与玻璃之间存在微裂纹现象进行了结构优化和验证,解决了产品密封的一致性和可靠性问题,并为相同结构封装的密封可靠性水平的提高提供了一定的参考.

低温玻璃熔封、镀金引线、气密性、失效分析

35

TN305.94(半导体技术)

2017-05-22(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)

共6页

24-29

相关文献
评论
暂无封面信息
查看本期封面目录

电子产品可靠性与环境试验

1672-5468

44-1412/TN

35

2017,35(2)

相关作者
相关机构

专业内容知识聚合服务平台

国家重点研发计划“现代服务业共性关键技术研发及应用示范”重点专项“4.8专业内容知识聚合服务技术研发与创新服务示范”

国家重点研发计划资助 课题编号:2019YFB1406304
National Key R&D Program of China Grant No. 2019YFB1406304

©天津万方数据有限公司 津ICP备20003920号-1

信息网络传播视听节目许可证 许可证号:0108284

网络出版服务许可证:(总)网出证(京)字096号

违法和不良信息举报电话:4000115888    举报邮箱:problem@wanfangdata.com.cn

举报专区:https://www.12377.cn/

客服邮箱:op@wanfangdata.com.cn

打开万方数据APP,体验更流畅