10.3969/j.issn.1672-5468.2016.03.009
恒定温度应力下的模拟IC加速退化试验研究
研究了在不同恒定温度应力条件下某型号驱动器的模拟集成电路的加速退化试验.首先,确定了该型驱动器的敏感参数,并建立了敏感参数的退化模型;然后,计算得到了器件在加速应力下的伪寿命;最后,利用阿伦尼斯模型对伪寿命数据进行分析,外推得到了器件的激活能及其在正常工作应力条件下的寿命信息.
加速退化试验、阿伦尼斯模型、激活能、驱动器
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TB114.3;TN431.1(工程基础科学)
2016-07-19（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）
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