10.3969/j.issn.1672-5468.2016.03.003
电磁脉冲对MMIC电路中MIM电容的损伤分析
电容失效是电子电路中常见的故障.通过对某QPSK调制器微波单片集成电路(MMIC)进行失效分析,确定了该产品出现的故障是由MIM电容引起的,进一步地通过故障原因排查和故障机理分析,得知该MIM电容故障是由电磁脉冲(EMP)引起的,最后通过设计试验使故障复现,验证了分析结果的正确性,从而为今后MMIC的老炼试验设计提供了指导.
电磁脉冲、微波单片集成电路、金属-绝缘体-金属电容、失效分析
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TN454.06(微电子学、集成电路（IC）)
2016-07-19（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）
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