10.3969/j.issn.1672-5468.2015.04.011
大规模集成电路测试程序质量控制方法研究
集成电路测试程序是集成电路测试的最基本的要素,测试程序的质量直接影响到测试的质量.对大规模集成电路的测试程序的开发过程及影响因素进行了研究,并提出了一套集成电路测试程序质量控制方法,从而保障了集成电路测试程序的质量.
集成电路、集成电路测试程序、开发过程、影响要素、评审
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TN47.07(微电子学、集成电路（IC）)
2015-09-18（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）
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