10.3969/j.issn.1672-5468.2014.03.009
晶体振荡器频率漂移失效分析
通过对某型晶体振荡器失效模式进行分析,结合密封性检查、扫描电子显微镜检查和能谱分析等失效分析试验结果,对该晶体振荡器频率漂移的失效机理进行研究.发现器件密封性不良是导致器件失效的根本原因,并对器件密封性工艺的优化提出建议.
晶体振荡器、频率漂移、密封性、失效分析
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TN752.2(基本电子电路)
2014-07-31（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）
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