10.3969/j.issn.1672-5468.2013.03.011
光耦在FPGA应用中的可靠性设计
结合实际工作中的体会和经验,就光耦可靠性设计等问题展开了论述；特别是对于象FPGA等较低的输入电流器件,论述了如何进行可靠性设计,并提出一些改善设计的方法.
光耦、现场可编程门阵列、可靠性设计
31
TB114.32(工程基础科学)
2013-09-16（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）
共3页
41-43
相关文献
评论
10.3969/j.issn.1672-5468.2013.03.011
光耦、现场可编程门阵列、可靠性设计
31
TB114.32(工程基础科学)
2013-09-16（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）
共3页
41-43
国家重点研发计划“现代服务业共性关键技术研发及应用示范”重点专项“4.8专业内容知识聚合服务技术研发与创新服务示范”
国家重点研发计划资助 课题编号：2019YFB1406304
National Key R&D Program of China Grant No. 2019YFB1406304
©天津万方数据有限公司 津ICP备20003920号-1
违法和不良信息举报电话：4000115888 举报邮箱：problem@wanfangdata.com.cn
