10.3969/j.issn.1672-5468.2013.02.011
电子产品寿命评估关键技术的研究
发达经济国家陆续出台针对电子电气产品使用寿命的法规、条例和标准,这些技术壁垒极大地影响了我国电子产品的出口.对寿命评估方法的现状、寿命评估的数学模型以及加速测试的方法进行了详细的分析,并介绍了测试后续预测方法的研究现状.
寿命评估、加速测试、神经网络、灰色理论
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TB114.3(工程基础科学)
2013-05-17（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）
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