10.3969/j.issn.1672-5468.2013.01.006
光电耦合器的长期贮存退化特性分析
介绍了某光电耦合器在自然条件下的贮存退化特性,长期贮存14年后出现了电流传输比和集电极暗电流等性能参数退化失效.其性能参数退化的原因为内部水汽含量高、胶体开裂.该试验结果对于贮存寿命设计和贮存延寿工程有一定的参考价值.
光电耦合器、贮存、退化、失效机理
31
TN36(半导体技术)
2013-04-03（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）
共4页
27-30
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10.3969/j.issn.1672-5468.2013.01.006
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TN36(半导体技术)
2013-04-03（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）
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国家重点研发计划“现代服务业共性关键技术研发及应用示范”重点专项“4.8专业内容知识聚合服务技术研发与创新服务示范”
国家重点研发计划资助 课题编号：2019YFB1406304
National Key R&D Program of China Grant No. 2019YFB1406304
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