10.3969/j.issn.1672-5468.2012.z1.051
基于ATE的LVDS芯片测试技术
介绍了基于自动测试设备(ATE)的低压差分信号(LVDS)芯片测试,从LVDS测试板设计、功能测试、直流参数测试和交流参数测试4个方面阐述了LVDS芯片测试的要点,结果表明,ATE上的测试结果符合ANSI/TIA/EIA-644定义的LVDS信号的接口特性.
低压差分信号、自动测试设备、测试板、功能、直流参数、交流参数
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TN407(微电子学、集成电路(IC))
2012-08-07(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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