10.3969/j.issn.1672-5468.2012.z1.041
电离总剂量辐照试验流程阐述
空间辐射环境是影响航天电子设备长期稳定运行的重要因素,是当前航天电子技术研究的重点.针对目前国内主要的电离总剂量辐照试验标准,阐述了MOS的辐照试验流程,并对其中包含的机理进行了详细的分析;同时,对试验方法中有关偏置条件、辐照后测试时间的规定等内容进行了详细的分析.
电离总剂量、金属-氧化物-半导体器件、辐照流程、偏置条件
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TN386.1(半导体技术)
2012-08-07（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）
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