10.3969/j.issn.1672-5468.2012.z1.029
GaAs器件寿命试验结温测试方法研究
在GaAs器件寿命试验中,器件的性能参数退化与结温密切相关.对于如何确定结温问题进行了研究,介绍了热阻的定义以及目前热阻测试中常用的方法.针对GaAs器件长期使用中出现的参数漂移、输出功率下降等问题,试验设计了4种相关的单机理评价结构,并使用电参数测试法确定出GaAs加速寿命试验中最合适的环境温度.
砷化镓器件、热阻测试、结温
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TN386;TN407(半导体技术)
2012-08-07（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）
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