10.3969/j.issn.1672-5468.2012.z1.018
使用TEM小室进行集成电路的辐射发射测量
介绍了使用透射电子显微镜(TEM)小室对集成电路进行辐射发射测量的方法,重点阐述了TEM小室、射频测量仪器、预放和集成电路测试用PCB等测试系统构成部分,环境条件以及测试步骤等内容.
透射电子显微镜、集成电路、辐射发射、测量
30
TN16;TN03(真空电子技术)
2012-08-07（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）
共4页
77-80
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10.3969/j.issn.1672-5468.2012.z1.018
透射电子显微镜、集成电路、辐射发射、测量
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TN16;TN03(真空电子技术)
2012-08-07（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）
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国家重点研发计划“现代服务业共性关键技术研发及应用示范”重点专项“4.8专业内容知识聚合服务技术研发与创新服务示范”
国家重点研发计划资助 课题编号：2019YFB1406304
National Key R&D Program of China Grant No. 2019YFB1406304
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