10.3969/j.issn.1672-5468.2012.06.005
集成电路开短路失效原因探讨
对过电应力引起的CMOS集成电路的开短路失效模式,从电路结构、导电通路、误操作等方面进行了失效原因探讨.列举了一些过电应力的来源,说明了电压或电流幅度很小也可导致过电应力烧毁,从而说明了根据失效模式来寻找过电应力来源的困难性.对失效分析、故障归零将有很好的参考价值.
数字集成电路、过电应力、开路、短路
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TN432(微电子学、集成电路（IC）)
2013-01-26（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）
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