10.3969/j.issn.1672-5468.2012.05.011
Ⅲ/Ⅴ族化合物半导体器件的空间应用可靠性
论述了Ⅲ/Ⅴ半导体器件在空间系统应用中的可靠性和质量鉴定方法.讨论了空间应用中该类器件常见的失效机制、辐射效应以及其它与高可靠性空间应用中相关的可靠性鉴定技术方法.
失效机制、质量鉴定、辐射效应
30
TN304.2+3;TN306(半导体技术)
2013-01-09（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）
共5页
46-50
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10.3969/j.issn.1672-5468.2012.05.011
失效机制、质量鉴定、辐射效应
30
TN304.2+3;TN306(半导体技术)
2013-01-09（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）
共5页
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国家重点研发计划“现代服务业共性关键技术研发及应用示范”重点专项“4.8专业内容知识聚合服务技术研发与创新服务示范”
国家重点研发计划资助 课题编号：2019YFB1406304
National Key R&D Program of China Grant No. 2019YFB1406304
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