10.3969/j.issn.1672-5468.2012.05.004
电子产品整机高加速寿命试验技术应用分析
通过对在所设计的高加速寿命试验中不同试验阶段出现的故障进行实例列举与分析,以期有助于生产厂家在达到较高的试验效费比的同时,设计出更成熟的产品,并对同类生产厂家后续相关试验起到实际的借鉴与指导作用.
高加速寿命试验、整机、故障分析
30
TB114.37;TB24(工程基础科学)
2013-01-09（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）
共4页
17-20
相关文献
评论
10.3969/j.issn.1672-5468.2012.05.004
高加速寿命试验、整机、故障分析
30
TB114.37;TB24(工程基础科学)
2013-01-09（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）
共4页
17-20
国家重点研发计划“现代服务业共性关键技术研发及应用示范”重点专项“4.8专业内容知识聚合服务技术研发与创新服务示范”
国家重点研发计划资助 课题编号：2019YFB1406304
National Key R&D Program of China Grant No. 2019YFB1406304
©天津万方数据有限公司 津ICP备20003920号-1
违法和不良信息举报电话：4000115888 举报邮箱：problem@wanfangdata.com.cn
