10.3969/j.issn.1672-5468.2011.05.013
半导体级别故障预测与健康管理
随着集成电路特征尺寸按比例缩小,其可靠性问题越来越突出.为了避免因集成电路失效而发生灾难性后果,有必要对集成电路进行故障预测与健康管理.首先,介绍了故障预测与健康管理技术的发展概况；然后,阐述了实施半导体级别故障预测与健康管理的两个主要方法:预兆单元法和失效先兆监测推理法,并根据相关案例进行了分析；最后,指出了该技术面临的挑战.
故障预测与健康管理、半导体产品、预兆单元、失效先兆
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TB114.39(工程基础科学)
2012-03-05（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）
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