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10.3969/j.issn.1672-5468.2011.05.005

IEC TR62380可靠性预计通用模型分析

引用
分析了国外典型电子元器件数据手册——IEC TR 62380《电子组件,PCBs和设备的可靠性预计通用模型》,并简要介绍了该预计手册中电子元器件的可靠性预计模型和方法.分析结果表明,模型直接考虑了环境的影响,并以设备任务剖面的热循环代替了难以评价的环境因子;在部件失效率中包含了与部件焊接相关的故障.

元器件、可靠性预计、模型、方法

29

TB114.39(工程基础科学)

2012-03-05(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)

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电子产品可靠性与环境试验

1672-5468

44-1412/TN

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2011,29(5)

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