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10.3969/j.issn.1672-5468.2010.06.003

X波段T/R组件可靠性增长方法研究

引用
介绍了一种通过可靠性强化试验(RET)来实现X波段T/R组件可靠性增长的方法.该方法主要包括3个过程,首先通过可靠性强化试验来暴露TR组件的潜在缺陷和薄弱环节:然后根据发现的问题分析故障原因,在此基础上改进设计和工艺;最后再对改进后的T/R组件进行RET,通过对比改进前后的试验结果来验证改进措施的有效性,从而实现了组件的可靠性增长.

T/R组件、雷达、可靠性强化试验

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TN956;TB24

2011-03-31(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)

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电子产品可靠性与环境试验

1672-5468

44-1412/TN

28

2010,28(6)

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