10.3969/j.issn.1672-5468.2009.03.009
基于加速退化的电子设备可靠性分析
提出了电子设备在退化状态下的可靠性分析问题,通过建立电子设备退化失效模型与失效阈值,解决了有正常退化数据的电子设备可靠性问题.在此基础上,研究了加速退化时的电子设备退化问题,利用加速试验来分析电子设备在非加速状态下的退化失效,从而解决了非加速状态时退化数据不足以进行可靠性分析的问题.最后,给出了计算实例.
退化、失效、加速、可靠性分析
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O213.2;O212(概率论与数理统计)
2009-07-23（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）
共4页
38-41
