10.3969/j.issn.1672-5468.2009.01.003
基于板级电路加速退化数据的可靠性分析
基于板级电路加速性能退化数据来研究电子产品可靠性评估问题.对电源整板进行80℃、100℃、120℃下加速退化试验,监测到输出电压随温度变化的退化过程.由试验数据对加速性予以定量验证,并基于Weibull分布采用最小二乘法进行可靠性统计推断.
加速试验、性能退化、可靠性
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TB114.3(工程基础科学)
国家自然科学基金项目60472009
2009-05-05（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）
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