10.3969/j.issn.1672-5468.2007.06.007
高可靠元器件的使用环境、试验条件和失效机理
为了对高可靠元器件进行可靠性试验提供设计依据,对包括航天、军事和汽车等在内的高可靠应用领域中的典型环境条件和要求进行了研究.这些环境条件包括高低温、温度循环、湿度、振动以及辐射等.总结了应用于高可靠领域的电子元器件的实验条件和相关标准,分析了高可靠应用环境条件对电子元器件失效的影响及其失效机理.
电子元器件、高可靠、环境条件、试验条件、失效机理
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TN306(半导体技术)
2008-04-09（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）
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