10.3969/j.issn.1672-5468.2007.05.013
塑封微电路在高可靠领域的应用、筛选与鉴定
主要介绍了塑封微电路(PEM)在高可靠领域的应用,并总结了JPL和NASA实验室推荐的筛选与鉴定试验程序,提出了在高可靠领域使用PEM时应考虑因素,旨在为我高可靠领域应用PEM提供可借鉴的试验方法.
塑封微电路、筛选、鉴定、试验
25
TN47(微电子学、集成电路(IC))
2008-01-24(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
共4页
48-51
10.3969/j.issn.1672-5468.2007.05.013
塑封微电路、筛选、鉴定、试验
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TN47(微电子学、集成电路(IC))
2008-01-24(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
共4页
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国家重点研发计划“现代服务业共性关键技术研发及应用示范”重点专项“4.8专业内容知识聚合服务技术研发与创新服务示范”
国家重点研发计划资助 课题编号:2019YFB1406304
National Key R&D Program of China Grant No. 2019YFB1406304
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