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10.3969/j.issn.1672-5468.2006.05.007

研制阶段的成败型产品可靠性Bayes评估

引用
研究了研制阶段的成败型产品可靠性的Bayes评估问题.针对当前可靠性评估方法中,经典统计方法无法利用历史信息,而传统Bayes方法又存在对历史信息与现场信息不加区分的缺陷,提出了研制阶段成败型产品可靠性评估模型.模型使用混合验前分布,并用历史样本与现场样本的拟合优度来确定混合分布中的继承因子,这样合理性就很容易得到解释.

可靠性评估、贝叶斯方法、二项分布、混合验前分布、继承因子

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TB114.3(工程基础科学)

2006-11-13(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)

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电子产品可靠性与环境试验

1672-5468

44-1412/TN

24

2006,24(5)

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