10.3969/j.issn.1672-5468.2006.04.007
单一失效机理引起的元器件贮存寿命评价方法研究
电子元器件长期贮存过程发生的失效是由多种失效机理共同作用的结果,以器件贮存寿命整体为基础的寿命评价难度很大.选择对器件贮存寿命影响最大的单一失效机理,以失效物理为基础,通过高加速应力试验进行寿命评价研究,获得的寿命可以较准确地反映器件真实的贮存寿命.单一失效机理贮存寿命的研究是元器件贮存可靠性工作的重要内容.
元器件、贮存寿命、失效机理
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TB24(工程设计与测绘)
2006-09-18（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）
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