10.3969/j.issn.1672-5468.2005.z1.051
国外电子元器件可靠性试验情报跟踪
跟踪研究了近年来国外在电子元器件可靠性试验方面的发展现状与趋势,主要包括集成电路新的试验方法;大规模集成电路测试方面存在的问题和未来的发展方向;裸芯片可靠性试验技术的发展;MEMS新技术的可靠性发展现状等.
电子元器件、可靠性试验、集成电路测试、试验技术
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TN306;TN406(半导体技术)
2006-02-23（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）
共4页
189-192
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