10.3969/j.issn.1672-5468.2005.z1.012
集成电路可靠性预计模型及其参数
通过分析集成电路失效类型与诸影响因素的关系,对集成电路可靠性预计模型进行了理论的探讨.以现场和试验数据为基础,研究模型参数的意义、表达式及其确定方法,并给出我国数字电路的温度应力系数和复杂度系数.
集成电路、可靠性、预计模型、模型参数
23
TN431.2(微电子学、集成电路(IC))
2006-02-23(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
共4页
47-50
10.3969/j.issn.1672-5468.2005.z1.012
集成电路、可靠性、预计模型、模型参数
23
TN431.2(微电子学、集成电路(IC))
2006-02-23(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
共4页
47-50
国家重点研发计划“现代服务业共性关键技术研发及应用示范”重点专项“4.8专业内容知识聚合服务技术研发与创新服务示范”
国家重点研发计划资助 课题编号:2019YFB1406304
National Key R&D Program of China Grant No. 2019YFB1406304
©天津万方数据有限公司 津ICP备20003920号-1
违法和不良信息举报电话:4000115888 举报邮箱:problem@wanfangdata.com.cn