10.3969/j.issn.1672-5468.2005.04.014
破坏性物理分析技术所面临的挑战和对策
破坏性物理分析(DPA)作为一种有效的电子元器件批质量评价方法,近年来对促进我国元器件制造工艺的提高起到了很大的作用.对当前DPA技术所面临的一些问题进行了分析,并提出解决这些问题的方法和建议.
电子元器件、失效、破坏性物理分析、结构分析
23
TN61/65(电子元件、组件)
2005-09-15（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）
共3页
48-50
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10.3969/j.issn.1672-5468.2005.04.014
电子元器件、失效、破坏性物理分析、结构分析
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TN61/65(电子元件、组件)
2005-09-15（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）
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国家重点研发计划“现代服务业共性关键技术研发及应用示范”重点专项“4.8专业内容知识聚合服务技术研发与创新服务示范”
国家重点研发计划资助 课题编号：2019YFB1406304
National Key R&D Program of China Grant No. 2019YFB1406304
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