10.3969/j.issn.1672-5468.2004.05.006
VLSI老化筛选试验技术的挑战
通过对集成电路老化试验技术的研究,指出了VLSI老化筛选试验技术仍然是集成电路产品质量和可靠性保障的重要手段.但是随着集成电路技术的飞速发展,老化技术面临许多有待解决的技术问题,从VLSI产品质量和可靠性保障的角度出发,急需制定可操作的VLSI老化试验技术规范.
老化、筛选、超大规模集成电路
TN47.06(微电子学、集成电路（IC）)
2004-12-09（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）
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