10.3969/j.issn.1672-5468.2004.03.003
电子元器件可靠性增长的分析技术
从元器件可靠性物理分析技术角度,系统地阐述了失效信息的收集与分析、失效分析、破坏性物理分析、密封器件内部气氛分析、失效模式及机理与工艺的相关性分析、失效模式与影响分析等元器件的质量与可靠性分析技术.将元器件质量与可靠性分析技术融入元器件产品设计、制造过程是实现元器件可靠性增长的必然趋势.
元器件、可靠性增长、分析技术
TN61/65(电子元件、组件)
2004-07-31（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）
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