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10.3969/j.issn.1672-5468.2003.05.014

湿热环境与电子产品可靠性

引用
阐述了湿热环境对电子产品质量寿命的影响,并重点介绍了目前湿热试验的热门话题:离子迁移失效的机理和试验方法.

环境试验、可靠性、离子迁移

TB24(工程设计与测绘)

2004-07-31(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)

共4页

57-60

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电子产品可靠性与环境试验

1672-5468

44-1412/TN

2003,(5)

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