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10.3969/j.issn.1672-5468.2003.05.005

多层共烧陶瓷在MCM-C中的应用及其可靠性

引用
评述了应用于MCM-C的多层共烧陶瓷的材料选择、工艺过程与控制,通过对多芯片组件系统的应力失效、损伤机理、热分析及关键工艺的过程控制的探讨,试图找出多层共烧陶瓷对MCM的可靠性的影响.

多芯片组件、共烧、陶瓷、可靠性

TM215.3(电工材料)

2004-07-31(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)

共6页

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电子产品可靠性与环境试验

1672-5468

44-1412/TN

2003,(5)

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