10.3969/j.issn.1672-5468.2003.05.002
电子产品退化失效的BS模型
退化失效的电子产品的寿命试验通常只能得到性能退化的数据,使用传统的方法很难对其可靠性进行评估.考虑到电子产品的退化类似于材料的疲劳,以金属化膜电容器为例,研究了BS模型在电子产品可靠性中的应用.从金属化膜电容器的失效过程推导出了该类型电容器的BS模型,经过计算比较,BS模型对脉冲电容器可靠性的评估要优于Weibull等其它模型.该实例证明BS模型能应用于电子产品的退化失效.
电子产品、可靠性、退化失效、BS模型、金属化膜、脉冲电容器
TN602;TB114.3(电子元件、组件)
国家高技术研究发展计划863计划2003AA845023
2004-07-31（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）
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