2002年IEEE国际可靠性物理年会论文集论文摘要(1)
@@1．快闪存储器在编程/擦除循环后SILC的定位(Localization of SILC in FLash Memories after Program/Erase Cycling)——2002 International Reliability Physics Symposium pp.1-6．说明了确定快闪存储器隧道氧化中应力引起漏电流(SILC)薄弱环节的新的定位方法。……
可靠性物理、年会、文集、快闪存储器、定位方法、氧化中、漏电流、应力、循环、隧道、编程
TB1;S85
2004-07-31（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）
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