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10.3969/j.issn.1672-5468.2002.05.015

破坏性物理分析(DPA)技术促进国产电子元器件质量提高

引用
简要介绍了破坏性物理分析(DPA)技术的概况和发展,重点介绍了信息产业部电子第五研究所DPA实验室应用DPA技术促进国产军用电子元器件质量提高的几个实际例子.

破坏性物理分析、电子元器件质量、缺陷模式控制或消除

TG115.28;TN61/65(金属学与热处理)

2004-07-31(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)

共3页

58-60

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电子产品可靠性与环境试验

1672-5468

44-1412/TN

2002,(5)

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