10.3969/j.issn.1672-5468.2002.02.016
CMOS集成电路IDD频谱图形测试理论与实践
分析了CMOS集成电路电源电流与集成电路芯片缺陷的相关性,介绍了CMOS集成电路新的测试方法--IDD频谱图形测试方法的测试原理,以及实现CMOS集成电路IDD频谱图形测试的测试框图.
互补金属氧化物半导体集成电路、电源电流、缺陷、开关电流、频谱图形、测试向量
TN432(微电子学、集成电路（IC）)
国家重点实验室基金99 JS 03.7.1 ZS 0305
2004-07-31（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）
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