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10.3969/j.issn.1672-5468.2001.04.006

引线框架电镀层测定方法的选择

引用
引线框架电镀层的质量直接影响着钽电容器的可焊性,所以引线框架电镀层质量的测定方法至关重要.通过对比试验认为对框架切片后使用电子探针仪探测和拍照的测定方法能够全面准确地测定出引线框架镀层的质量.

钽电容器、引线框架、电镀层、测定方法

TM535+.1(电器)

2004-07-31(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)

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电子产品可靠性与环境试验

1672-5468

44-1412/TN

2001,(4)

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