期刊专题

10.3969/j.issn.1672-5468.2001.03.005

航天电子产品可靠性增长试验的关键技术浅述

引用
可靠性增长试验是以暴露产品的薄弱环节为出发点,并证明改进措施有效,以达到可靠性增长的目的.文中谈及的可靠性增长试验方案的选择,试验过程中出现故障后试验如何往下进行,以及在试验结果评估中如何处置关联故障等是结合航天工程实践的具体经验总结.对开展好可靠性增长试验具有现实意义,值得借鉴.

电子产品、可靠性增长、试验、关联故障

V443(航天仪表、航天器设备、航天器制导与控制)

2004-07-31(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)

共6页

24-29

相关文献
评论
暂无封面信息
查看本期封面目录

电子产品可靠性与环境试验

1672-5468

44-1412/TN

2001,(3)

相关作者
相关机构

专业内容知识聚合服务平台

国家重点研发计划“现代服务业共性关键技术研发及应用示范”重点专项“4.8专业内容知识聚合服务技术研发与创新服务示范”

国家重点研发计划资助 课题编号:2019YFB1406304
National Key R&D Program of China Grant No. 2019YFB1406304

©天津万方数据有限公司 津ICP备20003920号-1

信息网络传播视听节目许可证 许可证号:0108284

网络出版服务许可证:(总)网出证(京)字096号

违法和不良信息举报电话:4000115888    举报邮箱:problem@wanfangdata.com.cn

举报专区:https://www.12377.cn/

客服邮箱:op@wanfangdata.com.cn

打开万方数据APP,体验更流畅