10.3969/j.issn.1672-5468.2001.01.007
GaAs MMIC可靠性研究与进展
介绍了GaAs器件及MMIC的可靠性研究现状,给出了GaAs器件的几种失效模式和失效机理.
砷化镓器件、单片微波集成电路、可靠性、失效
TN454.06(微电子学、集成电路(IC))
2004-07-31(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
共5页
29-33
10.3969/j.issn.1672-5468.2001.01.007
砷化镓器件、单片微波集成电路、可靠性、失效
TN454.06(微电子学、集成电路(IC))
2004-07-31(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
共5页
29-33
国家重点研发计划“现代服务业共性关键技术研发及应用示范”重点专项“4.8专业内容知识聚合服务技术研发与创新服务示范”
国家重点研发计划资助 课题编号:2019YFB1406304
National Key R&D Program of China Grant No. 2019YFB1406304
©天津万方数据有限公司 津ICP备20003920号-1
违法和不良信息举报电话:4000115888 举报邮箱:problem@wanfangdata.com.cn