10.3969/j.issn.1002-7300.2007.07.008
基于边界扫描技术的电路板可测性设计分析
为满足当今电路测试和故障诊断的需求,可测性设计(DFT)已成为芯片和系统设计中不可或缺的重要组成部分.IEEE 1149.1作为一种标准化的可测性设计方法,弥补了传统测试的缺陷,为复杂的电路互连提供了测试手段.现在大部分的复杂芯片都支持IEEE1149.1标准,怎样利用其来达到更好的测试效果和故障覆盖率是硬件设计人员必须考虑的问题.本文从边界扫描原理入手,通过对一目标板上互连结构的测试,从可测性设计的角度探讨了如何使边界扫描技术得到更有效的贯彻和应用.
边界扫描、可测性设计、扫描链、故障诊断
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TN41(微电子学、集成电路（IC）)
2007-12-10（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）
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