10.3969/j.issn.1002-7300.2007.07.007
AOI检测系统光照不均的校正方法研究
针对电子组装业自动光学检测(automatic optical inspection,AOI)系统光照不均情况,分析了背景去除法、传统同态滤波法2种校正方法,并将一种改进的基于小波变换的同态滤波方法应用于该领域.该方法对目标图像进行多层小波分解,对各层高低频系数滤波处理,减弱低频系数,增强高频系数,然后进行小波重构,从而达到光照不均校正的目的.然后取PCBA(printed circuit board assembly)图像进行了3种方法的实验对比,结果证明了改进的基于小波变换的同态滤波方法在AOI系统中具有很强的实用性.
AOI、PCBA、同态滤波、小波变换
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TN60(电子元件、组件)
2007-12-10(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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