10.16628/j.cnki.2095-8188.2020.04.003
基于递推最小二乘算法的合成试验控制方法研究
针对大容量合成试验的精度要求高、实时响应速度快的控制要求,采用了递推最小二乘算法预测短路电流的零点;同时分析了采样精度、采样频率、噪声、频率偏移等因素对预测算法计算精度的影响,并且给出了改进的方法.为了验证算法的准确性,搭建了以DSP为核心器件的合成回路控制系统.试验结果表明,电压回路和延弧回路的实际投入时间与设定时间的误差在50 μs以内,满足合成试验精度要求,保证合成试验的等效性.
递推最小二乘算法、合成试验、遗忘因子、断路器
TM715(输配电工程、电力网及电力系统)
SF6高压断路器弧后介质绝缘强度恢复机理及控制方法研究项目批准号516370051637006
2020-08-19（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）
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