10.16628/j.cnki.2095-8188.2016.16.003
继电器贮存失效机理及可靠性试验方法综述
概述了国内外继电器贮存可靠性研究现状,介绍了继电器长期贮存状态下的环境影响因素.在分析继电器主要贮存失效机理的基础上,介绍了目前几种主要的贮存可靠性试验方法、模型及其适用范围.最后,对该领域的研究方向进行了展望.
继电器、贮存可靠性、失效机理、加速贮存试验
TM58(电器)
国家自然科基金资助项目51507074;江苏省高校自然科学研究面上资助项目15KJB470003;中国博士后科学基金资助项目2015M571898;机械工程浙江省重中之重学科和浙江理工大学重点试验室开放基金资助项目ZSTUME01A02
2016-11-04（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）
共7页
13-19
