10.3969/j.issn.1001-5531.2014.20.003
面向CPS产品参数设计的计算机辅助公差分析与优化
结合计算机辅助公差设计分析技术,以CPS某型号产品为例对开距参数理论值进行公差分析,得到了开距的仿真计算合格率和尺寸贡献度.通过预测和控制制造偏差、优化设计来提高产品尺寸质量和降低产品生产成本与开发周期.
计算机辅助公差分析、蒙特卡罗法、开距、CPS
TM564(电器)
上海市科学技术委员会的资助12dz1125000
2014-12-25(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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