10.3969/j.issn.1001-5531.2010.20.013
一种智能型熔断器寿命试验与评估系统
根据老化机理建立的基于金属电迁移理论的熔断器寿命预测模型,开发了一套熔断器寿命评估系统.该系统能够采集精确的、全面的寿命试验数据,经过数据分析与处理,能得到组熔断器的预测寿命.最后,以TDP44-1A型熔断器为例,对所述寿命评估方法进行了验证,说明了方法的有效性.
管状熔断器、寿命试验、金属电迁移、寿命预测模型、寿命评估系统
TM563;TM506(电器)
2011-01-28（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）
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