10.3969/j.issn.1001-5531.2010.02.013
单片机技术在时间继电器测试中的应用
介绍了时间继电器延时参数的测试,并对单片机测试框图及其软件流程进行了相应介绍.此外,对检测的外围线路以及在检测过程中的电磁兼容EMC问题进行了相关介绍和说明.
时间继电器、延时参数、测试、单片机、电磁兼容
TM587.2(电器)
2010-06-21（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）
共4页
53-56
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10.3969/j.issn.1001-5531.2010.02.013
时间继电器、延时参数、测试、单片机、电磁兼容
TM587.2(电器)
2010-06-21（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）
共4页
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国家重点研发计划“现代服务业共性关键技术研发及应用示范”重点专项“4.8专业内容知识聚合服务技术研发与创新服务示范”
国家重点研发计划资助 课题编号：2019YFB1406304
National Key R&D Program of China Grant No. 2019YFB1406304
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