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10.3969/j.issn.1001-5531.2008.11.006

基于FPGA的智能断路器分合速度测试系统

引用
建立了一个断路器分合速度测试系统并对其进行了分析.该系统使用了一片可编程逻辑门阵列芯片及一个加速度传感器模块,配合相应的外围电路对断路器分合速度进行测试,是一个断路器测试片上系统解决方案.

断路器、现场可编程逻辑门阵列、速度测试

TM561;TP273(电器)

2008-09-01(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)

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低压电器

1001-5531

31-1419/TM

2008,(11)

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